|
| Nederlandse Vereniging voor Microscopie |
|
Werkgroep - Kontaktgroep voor Rastertechnieken en Microscopie (KREM)  |
|
Doelstelling
De werkgroep is actief op het terrein van de electronen microscopie die gebruikt maakt van "scannende" technieken zoals Scanning (Transmissie) Electronen Microscopie (inclusief exoten als "cryo-SEM", "Low vacuum SEM", "Environmental SEM", and FieldEmission SEM"), tevens de daaraan gerelateerde analyse technieken zoals EDX, WDX, EBSD, de bijbehorende preparatieve aspecten, data handling, processing, archivering en al dan niet binnen de richtlijnen van een kwaliteitwaarborgingsysteem. Het doel van deze Kontactgroep is om een forum te zijn waar onderzoekers en gebruikers werkzaam in dit veld kennis en ervaring kunnen uitwisselen en ontwikkelen. De werkgroep organiseert gemiddeld twee bijeenkomsten of workshops per jaar. De programma?s van deze bijeenkomsten kunnen onderwerpen van zowel wetenschappenlijke als technische aard bevatten.
|
|